Собственные и примесные полупроводники. Статистика носителей заряда в полупроводниках

Контрольная работа, 13 Июня 2013, автор: пользователь скрыл имя

Краткое описание


Чем выше температура и меньше ширина запрещённой зоны, тем выше скорость тепловой генерации носителей заряда– электронов и дырок. Одновременно с генерацией в полупроводнике происходит противоположный процесс –рекомбинация, т.е. возвращение электрона в валентную зону и исчезновение пары свободного электрона и дырки.

Прикрепленные файлы: 1 файл

КиМСМЭ.doc

— 124.00 Кб (Просмотреть файл, Скачать документ)

Открыть текст работы Собственные и примесные полупроводники. Статистика носителей заряда в полупроводниках