Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии в неконтактном режиме

Цели работы: изучение основ сканирующей атомно-силовой микроскопии и принципов работы атомно-силового микроскопа в неконтактном режиме, определение основных параметров датчика силового взаимодействия прибора NаnoEducator и параметров СЗМ эксперимента, получение топографии поверхности и фазового контраста исследуемого образца.
Приборы и принадлежности: прибор NanoEducator, фрагмент компакт-диска со снятым защитным слоем или любой другой по выбору преподавателя.