Отладка систем с помощью микроспроцессорных систем

С технологией IEEE 1149.х тесно связана методология BIST (Built-in Self Test/встроенное самотестирование). Она основана на дополнении интегральной микросхемы аппаратными ресурсами или программным обеспечением для проведения самотестирования. Аналогом BIST считается самотестирование, проводимое BIOS компьютера Power-On Self-Test (POST), в ходе которого проверяется память RAM и шины питания. Технология BIST может внедряться средствами на уровне платы, но чаще всего это «черта» микросхемы.

И если говорить о тестировании плат, то технология IEEE 1149.х имеет ряд ограничений по обнаружению дефектов, преодолеть которые можно лишь с использованием дополнительных приёмов диагностики (см. табл. 1), включая технологию BIST

При использовании BIST интерфейс JTAG может играть роль инструмента для передачи команд тестирования и сбора данных. Для этого в качестве опциональной возможности в стандарте IEEE 1149.1 введена команда RUNBIST.

Сегодня ряд микропроцессоров поддерживает технологию BIST, работа которой реализуется через порт JTAG. Результаты BIST-проверок хранятся в регистрах данных, откуда информация в последовательном формате загружается через линию TDO. Объединение возможностей технологий JTAG и BIST позволяет обеспечить больший охват неисправностей, так как BIST помогает выявлять внутренние дефекты работы кристаллов микросхем и дефекты работы платы, возникающие в динамическом режиме её работы, что недоступно технологии граничного сканирования. При использовании технологии BIST удобна иерархическая модель испытаний: сначала на системном уровне выявляются дефектные платы, а потом на уровне платы выявляются дефектные компоненты.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

5. Место JTAG-тестирования в общем процессе производства.

JTAG-тестирование выполнятся  после того, как на произведенной  плате проверено наличие верных  напряжений питания.

 

JTAG-тестирование позволяет  выявить непропай в BGA-корпусах, замыкания, обрывы, а также нерабочие микросхемы с цифровыми интерфейсами. Очень важно выявить все эти дефекты, так как если непроверенная плата переходит на этап программирования, могут возникнуть проблемы с запуском памяти и периферии. При этом будет сложно установить причину неполадок: неверные настройки ПО или дефект монтажа. JTAG-тестирование позволяет предупредить эту проблему.

 

 

 

 

 

 

 

 

Заключение.

О правильности функционирования микропроцессорной  системы на уровне "черного ящика" с полностью неизвестной внутренней структурой можно говорить лишь тогда, когда произведены ее испытания, в ходе которых реализованы все  возможные комбинации входных воздействий, и в каждом случае проверена корректность ответных реакций. Однако исчерпывающее  тестирование имеет практический смысл  лишь для простейших элементов систем. Следствием этого является тот факт, что ошибки проектирования встречаются  при эксплуатации, и для достаточно сложных систем нельзя утверждать об их отсутствии на любой стадии жизни  системы. В основе почти всех методов  испытаний лежит та или иная гипотетическая модель неисправностей, первоисточником  которой служат неисправности, встречающиеся  в практике. В соответствии с моделью  в рамках каждого метода предпринимаются  попытки создания тестовых наборов, которые могли бы обеспечить удовлетворительное выявление моделируемых неисправностей. Любой метод тестирования хорош  ровно настолько, насколько правильна  лежащая в его основе модель неисправности.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Список использованной литературы.

1. Н.П. Васильев, В.Р. Гороховой, «Микропроцессоры. Аппаратурно-

программные средства отладки», Высшая школа, М.,1984.

2.     Н.В. Воробьев, В.Л. Горбунов, «Микропроцессоры. Средства  отладки:

Лабораторный практикум  и задачник», Кн. 3, Выш. Шк., Мн., 1987

3.     В.А. Мясников, М.Б. Игнатьев, «Микропроцессоры: системы

программирования и отладки», Энергоатомиздат, М.,1985.

4. Г.Б. Уильямс, «Отладка микропроцессорных систем», Энергоатомиздат, М.,
6. м и р В К Т №3 2 0 0 8
7. Микропроцессоры. Кн. 3. Средства отладки / Под ред. Преснухина Л. Н.  - М.: Высшая школа, 1986.