Вырощування монокристалiв кремнiю

Автор работы: Пользователь скрыл имя, 01 Июня 2013 в 14:12, курсовая работа

Краткое описание

Це підвищення видoбутку кремнію почалося у 50-их роках, коли виявилось,що його температурна і хімічна стабільність вища за германію. Але найбільше значення цей матеріал отримав після освоєння технології планарних транзисторів і І.С. . Кремній виявився майже ідеальний і поки єдиний матеріал для виготовлення мікропроцесорів, широке пристосування яких відкрило шлях для прогресу техніки обробки інформації.
Феномен кремнію - одна із значних віх нашого століття. Він гідний вивчення не тільки тому, що з цим матеріалом нерозривно зв’язане сьогоднішнє і майбутнє радіоелектроніки, але і тому, що він дає хороший приклад швидкого і масового використання досягнень науки у виробництві. Досвід показав, що якщо об’єктом вивчення є напівпровідниковий кремній, фундаментальні фізичні і прикладні дослідження практично не розрізняються, а розрив між розробкою і введенням у використання зведений до мінімуму на всіх стадіях виготовлення матеріалу до його промислового використання.

Прикрепленные файлы: 1 файл

брыджмен.doc

— 3.32 Мб (Скачать документ)

 

 

Рис 8

 

Злитку на відстані d від початку вираховується виразом

 

 

Де l – довжина розплавленої зони.

Подальше очищення виконується при повторному проходженні зони через злиток.

Очищення стає ефективним, коли концентрація домішок у кінцевому матеріалі менша за значення її максимальної розчинності. 

Для домішок з k* в діапазоні 0,1<k*<10 висока степінь очищення можлива лиш при їх концентрації, набагато меншої величини максимальної розчинності. Для речовин з k* ~ 1 очищення можливе у вигляді з’єднань. Таким методом очищують, наприклад, Ga і In у вигляді трихлориду і трийодиду відповідно.

В більшості випадків дифузними домішками в твердій фазі можна знехтувати, бо коефіцієнт дифузії не перевищує 10-8 см2/сек. Але є ряд виключень, наприклад, мідь, для якої коефіцієнт дифузії в Ge досягає 10-5 см2/сек. Дифузія може бути підвищеною також за наявності дефектів кристалічної структури. Але головна перешкода швидкості проходу зони є в основному малою швидкістю дифузії у рідкій фазі. Чим вища швидкість росту, тим менше часу дифузійного видалення домішки від кристалізації розділеної границі. В цьому випадку перед фронтом кристалізації виникає шар підвищеної концентрації домішки. Цей шар розсмоктується шляхом перемішування. Важливим моментом при зонній кристалізації є збереження стійкості фронту кристалізації. Нестійкість веде до оглублення рельєфу фронту кристалізації і включення частинок розплаву і домішок. 

Очищення методом зонної плавки є одним із найбільш ефективних промислових методів отримання особливо чистих напівпровідникових матеріалів. Якщо в злиток вводиться монокристалічна затравка, тоді отримується матеріал у вигляді монокристала. При очищені Ge з граничним опором 0,02 ом*см через шість – вісім проходів отримуємо злитки з граничним опором 30 – 50 ом*см. 

Зонною перекристалізацією отримані великі кристали InAs, InSb, GaTe. Останній очищується в герметичній ампулі в присутності пари Cd ( рис 9 ). Метод проведення зонної перекристалізації в парі легкого компонента знайшов широке застосування для очищення і отримання монокристалів бінарних і потрійних напівпровідникових з’єднань ( Ag2S, Ag2Se, Cu2Se, CuAsS2, CuAsSe2 та інші).

Важливим промисловим варіантом зонної плавки є безтигельна зонна плавка ( рис 10 ). В цьому варіанті виключається потрапляння домішок із матеріалу тигля, ампули і лодочки. При нагріві безтигельної плавки не використовують розжарений кільцевий нагрівач, бо з нього на поверхню злитка може потрапити домішка.

 

 

Рис 9 Зонна частка телуриду кадмію

1 – піч, яка робить зону; 2 – піч з двома секціями; 3 – кварцовий посуд; 4 – графітова лодочка; 5 – розплавлена зона ; 6 – кадмій, який робить атмосферу парів Cd над лодочкою; 7 – трубки з термоелементами (а); розподіл температур вздовж печі (б).

 

Тому переважно при нагріванні використовують високочастотний нагрівач або електронне бомбардування ( рис 9 ) метод безтигельної зонної плавки найбільш перспективний для отримання монокристалічних стержнів, які є дуже тугоплавкі, наприклад, бору ( Тпл=2300 С0 ). Компактний стержень із порошкоподібного бору пресується при 7*105 кн/м2 і поступово нагрівається у вакуумі до температури 300, а потім до 500 С0. В якості наповнювача використовується борна кислота, яка при цій температурі розкладається з утворенням трьохоксиду бору, який скріплює частинки при підвищенні тиску. Зона утворюється кільцевим індуктором ВЧ. При високій температурі трьохоксид бору випаровується, і після повторного проходження зони стержень перетворюється в монокристал.

 

 

Рис. 10 Зонна плавка за допомогою електронного бомбардування.

1 – отвори для підйому стержня напівпровідника; 2 – заземлюючий вивід; 3 – вивід для манометра; 4 – стержні для встановлення променя електронів; 5 – розплавлена зона; 6 – піднімальне обладнання; 7 – електроди; 8 – зразок; 9 – вакуумна посудина; 10 – захист від випромінювання; 11 – вольфрамовий дріт; 12 – відвід до вакуумного насосу.

 

Вирощування кристалів із розчинів. Кристалізація із розчину проходить подібно до кристалізації із розплаву. Різниця між ними є в більш вузькій метастабільній області і підвищеній ймовірності виникнення зародків. При вирощуванні із розчину важливу роль відіграє також кількість розчину, зменшення якого провокує довшому існуванню метастабільного стану в умовах перенасичення.

Перенос частинок dm/dt через шар рідини товщиною d, дотичний до поверхні, яка росте, рахується за рівнянням Фіка ( другий закон )

 

Тут D – коефіцієнт дифузії ; Lг – розмір ростучої грані кристалу; С – концентрація пересічного розчина; С0 – концентрація насиченого розчину.

Розрізняють наступні варіанти методу: 1) розчинником є один із компонентів вирощуваного кристалу; 2) розчинник не є таким компонентом.

Вирощування найчистіших кристалів потребує першого методу, але другий спосіб допускає більш широке управління умовами кристалізацї. Застосування першого методу іноді обмежується недобрими впливом діаграми стану.

Вибір методу втілюється на основі діаграми температура – розчинність, причому перенасичення робиться охолодженням розчину, насиченого при вищі температурі. Процес проводиться в умовах, коли ймовірність утворення зародків мінімальна, і у ванні підвішують один або декілька зародків кристалів.

В більшості методів існує перемішування розчину. Для речовин з високою розчинністю відбувається ріст з швидкістю не більше 100 – 300 моношарів в секунду. При нормальній розчинності температурний коефіцієнт розчинності переважно дуже малий, і вирощування монокристалу краще в умовах випаровування розчинника. В умовах, коли температурний коефіцієнт розчинності має проміжне значення, доцільна образна вакуумна кристалізація - бо у вакуумі випари супроводжуться інтенсивним зниженням температури. Рисунок 11 пояснює особливісті кожного з цих методів. При сильній зміні розчинності з температурою, перехід в область 1 із області 3 досягається найбільш ефективне охолодження при постійному значенні розчинності ( стрілка на рис. 11, а ). У випадку слабої розчинності керуючі зміни режиму кристалізації із зміщенням з 3 в область 1 найбільш просто втілюються за допомогою випаровування розчинника ( стрілка на рис. 11, б ).

В умовах пониження розчинності з підвищенням температури єдиним методом є випаровування. За допомогою зниження температури здійснюється вирощування ряду кристалів із водних розчинів.

Важливими об’єктами, вирощування яких здійснюється із розчину, є кристали сегнетоелектриів: дигідрофосфат амонію (ADP) – (NH4)H2PO2 ; дигідрофосфат калію (KDP) – KH2PO4; сегнетова сіль (KNГ) – NaC4H4O6 * 4H2O та інші.

При використанні розплавів – розчинників компоненти повинні володіти повною розчинністю в розплавленому стані і не утворювати твердих розчинів.

Цей метод найбільш перспективний для вирощування кристалів напівпровідників. Із розплавів срібла, цинку, золота, олова, індію і галію кристали вирощувались методом зонної плавки з допоміжним температурним градієнтом. Тонкий шар розплавленого кремнієвого сплаву поміщають між двома силікатами Si ( рис. 12 ). Кристалізація Si із розплаву Si+Au в лівій границі розплавленої зони відбувається тому, що розчин поблизу неї є перенасичений при Т1. У правій границі розплавленої зони при Т21 кремній переходить в розчин. При наявності температурного градієнту, зображеного на рисунку, вся зона поступово переміщується як ціле зліва на право, залишаючи за собою перекристалізований монокристал Si, який насичений Au. Ростучи в цих умовах кристали Si мають довжину до 2 см і концентрацію золота приблизно 10-6 %. Із розплавів в сріблі ростуть шестикутні пластинки січною 0.5 – 2 мм і товщиною 0.1 – 0.3 мм, тільки з великим вмістом домішок ( до 0.15 %).

Цим методом вирощуються монокристали Si, насичений Au. Ростучі в цих умовах кристали Si мають довжину до 2 см і концентрацію золота приблизно 10-6 % . З розплаву в сріблі і цинку ростуть шестикутні пластинки січною 0.5 – 2 мм і товщиною 0.1 – 0.3 мм, але з більшим вмістом домішки ( до 0.15 % ).

 

Рис. 11 Вибір методу вирощування на основі діаграми температури - розчинність. А – розчин KNO3 при понижені температурі; б - розчин NaCl при ізотермічному випаровуванні води; 1 - область метастабільного перенасичення; 3 - область перенасичення внаслідок переохолодження; 4 - крива перетину; 5 - крива насичення.

 

Рис. 12 Використання зонної плавки для вирощування кристалів Si із сплавів Si - Au

Цим методом вирощуються також ряд інших напівпровідників B, Si, сіре олово ряд окислів: BaO, ZnO; ортоферити рідкоземельних M3, Fe3O3 (М галоліній, європій, лантан, неодом, паразеодим, самарій або іттирій ). В послідньому випадку використовуються розплави окису свинцю з відношенням вихідних речовин до PbO 1:6. Кристали титанату бакію вирощуються із сплавів щілинних і щілинно-земельних з’єднань. Великі кристалічні пластини BaTiO3 отримані із розплаву безводного фторида калію при охолодженні його від 1200 до 875 0С за час 8 годин.

Злитки, які складаються із декількох кристалів InP, були отримані із розплаву індію і фосфіду індію. Високі температури плавлення і більше значення тиску дисоціації з‘єднань A3B5 обумовлюють необхідність здійснення атмосфери летючого компонента. Тому кристали A3B5 вирощують в герметично закритому посуді.

В загальному випадку для A3B5 максимальна точка плавлення не співпадає із стехіометричнм складом. Оскільки кожні точці ліквідуса відповідає свій тиск пари, тому зміни його в прцесі кристалізації будуть призводити до зміни складу кристалізованх з’єднань. Шкідливий компонент веде себе як з коефіціентом розподілу k*<1 . Якщо це легкий компонент B, то буде відбуватися його відтіснення в розплав, який відповідно збагачується компонентом B.Останнє зумовлює порушення рівноваги між розплавом і паровою фазою.

Відновлення рівноваги виконується за рахунок переходу залишку компоненту B із розплаву в парову фазу. В свою чергу, якщо тиск пари, який робиться джерелом, буде за якихось причин змінюватися, то склад розплаву і ростучого кристалу також буде постійним.

Ріст кристалів із парової фази. Ріст кристалів із газової фази є одним з найбільш вивчених процесів. Розміри кристалів, вирощуваних цим методом, обмежуються малими транспортними можливостями газу як речовина, провідником і відвідником тепла кристалізації, а також легкістю утворення турболентних потоків поблизу ростучого кристалу. За допомогою цього методу вирощують кристали теллура і селену. Кристали сульфіду кадмію вирощуються із газової фази декількома методами: 1) газодинамічний потік, в якому пари Cd поглинаються сірководнем або парами сірки і на холодних частинках посуду осідає CdS; 2) квазіорівномірно, при якому CdS кристалізується із пари CdS в холодних частинах посуду за умовами, близькими до рівноважних.

В першому випадку під фарфорову лодочку з Cd, розміщеного в кварцовій трубці, пропускається при 800 – 1000 0С вивід суміші з сірководнем. Cd реагує з сірководнем, і перетворившись в CdS осідає у холодних частинках трубки у вигляді лентоподібних кристлів ~ 3х5х0.2 мм. При пропусканні суміші водню і селену росли кристали CdSe розміром 1 -2 мм. Кристали CdS, ZnS також можуть бути вирощені за рахунок переносу пари азоту або аргону. Форми росту кристалу і загальний їх облік при вирощуванні із газової фази представлені на рисунку 13. 

Ростучі кристали можуть бути леговані домішками ( наприклад, Cl, Ga, Zn ) в кількості 0,01 – 0,1%. Наявність домішок впливає на форму росту. Наявність хлору обумовлює ріст в товщину. Лентоподібні кристали виникають при вмісті Ga в концентрації менше 1019 см-3. При NGa>1019 см-3 ростуть гексагональні призми довжиною до 30 мм і діаметром 0,3 – 1 мм.

 

Рис. 13 Форма кристалів CdS при вирощуванні із газової фази.

1 – пластинкова; 2 – голкова; 3 –  тип 1 з прямокутними штрихами; 4 – тип 1 з косими штрихами; 5 – двійники; φ=30, 45 або 600

 

На форму кристалів впливають також методи вирощування. При сублімації CdS найчастіше зустрічається другий тип кристалів, зображений на рисунку 13. При реакціях випарів кадмію і сірки найчастіше зустрічається п’ятий тип кристалів.

 

Рис.14 Схема Пайпера і Полінга

1 – піч;2 – шитка;3 – кристал 4 –  муллітома труба;4 – ампула (а); розподіл температури вздовж печі (б)

 

Можливість отримання великих монокристалів CdS методом сублімації була реалізована Пайпером і Полішем, які використовували принцип переміщення сублімарної зони через ущільнену полікристалічну засипку, поміщену у замкнуту кварцову ампулу. Схема установки зображена на рисунку 14. Кварцова ампула з однієї сторони має затравочний корпус з припаяним до нього кварцовим стержнем для покращення умов зародження зародків монокристалу і з відкритої сторони щільно входячу в середину ампули запаяну трубку. Мулітовану трубку ( яка служить для захисту ) з розміщеними всередині неї ампулами з ущільненим порошком переміщають з швидкістю 0,5 – 1,5 мм/год в печі, маючи (показано у верхні частині на рисунку 14) розподіл температури. При початковому положенні конічного носика ампули в зоні максимальної температури конус повністю очищується від полікристалічної засипки, а потім по мірі руху ампули в холодну зону в ньому виникає монокристалічний зародок, розростаючись по діаметру ампули на довжину декількох сантиметрів.

Информация о работе Вырощування монокристалiв кремнiю