Сканирующая туннельная микроскопия
Реферат, 27 Октября 2014, автор: пользователь скрыл имя
Краткое описание
В 1981 году Герхард Бинниг и ХайнрихРёрер из исследовательской лаборатории IBM в Цюрихе изобрели новый тип микроскопов, названный ими сканирующий туннельный микроскоп (СТМ). Став первым устройством, позволяющим получать реальные изображения поверхностей с атомарным разрешением, СТМ стал также основой для создания нового направления микроскопических исследований — сканирующей зондовой микроскопии
Прикрепленные файлы: 1 файл
Р2. зондовые методы создания наноструктур.docx
— 836.56 Кб (Скачать документ)
Литература
- www.nanoscopy.net
- Бахтизин Р.З. Сканирующая туннельная микроскопия — новый метод изучения поверх-ности твердых тел // Соросовский образовательный журнал. — 2000. — № 11. — С. 83-89.
- Усанов Д.А., Яфаров Р.К. Исследование поверхности материалов методом сканирующей туннельной микроскопии: Учеб. пособие для студ. факультета нано- и биомедицинских технологий. Изд-во Сарат. ун-та, 2007.- 51 с,: ил.