Автор работы: Пользователь скрыл имя, 19 Апреля 2015 в 20:24, реферат
Денежные и трудовые затраты на тестирование сложных интегральных схем с привлечением контрольно-измерительной аппаратуры может во много раз превышать стоимость интегральной схемы из-за длительности процесса тестирования и сложности его реализации. Производить тестирование на модели разрабатываемой интегральной схемы существенно удешевляет процесс тестирования и сокращает время его проведения.
Введение 3
1. Средства отладки для микроконтроллеров семейства HC05 3
1.1 Внутрисхемные симуляторы 5
1.2 Внутрисхемные эмуляторы 7
1.3 Программаторы 10
1.4 Средства разработки третьих фирм 11
2. Отладочные средства БИС 12
2.1 Средства разработки электронных схем 12
2.2 Прототипные платы схем программируемой логики с ISA 13
2.3 Прототипные платы схем программируемой логики с PCI 13
2.4 Платы разработчика для схем программируемой логики с PCI 14
2.5 Оборудование для контроля и отладки проектных плат 15
2.6 Комплекс средств тестирования методом граничного
сканирования JTools 16
2.7 Комплекс средств тестирования методом граничного
сканирования (дополнительно) 17
Заключение 18
Список используемой литературы 19