Исследования поверхности кремния с использованием сканирующего зондового микроскопа NanoEducator

Последнее десятилетие в экспериментальной физике характеризуется интенсивным развитием принципиально новых методов изучения поверхностей с нанометровым и атомарным пространственным разрешением. В настоящее время эти методы объединены под общим названием — сканирующая зондовая микроскопия (СЗМ). Этот термин относится к любым типам микроскопов, в которых изображение формируется за счёт перемещения (сканирования) острого микрозонда (иглы) над исследуемой поверхностью. Родоначальником таких приборов является сканирующий туннельный микроскоп (СТМ).

Введение
1. Сканирующая зондовая микроскопия
1.1. Теоретические основы СЗМ
1.2. Сканирующие туннельные микроскопы.
1.3. Атомно-силовая микроскопия
1.4. Ближнепольная оптическая микроскопия
2. Исследования поверхности кремния с использованием
сканирующего зондового микроскопа NanoEducator.
2. 1. Конструкция и принцип работы сканирующего
зондового микроскопа NanoEducator.
2.2 Проведение СЗМ эксперимента
Список используемых источников